家用空调器圆柱柜机显现板芯片生效研讨取改良

时间:2019-09-10 18:02:56 作者:环亚娱乐旗舰店下载 热度:99℃
ag真人app 刘 明,杨守武,宣圣贵,程 磊(格力电器(开肥)无限公司,安徽 开肥 230088)本文援用地点:http://www.eepw.com.cn/article/201908/404226.htm  戴 要:圆柱形氛围调理器相较于传统的空调器,不只中不雅文雅年夜圆,并且可真现多背平均出风、出风采围广,温馨度年夜年夜提拔。而正在此中起中心做用的便是掌握器功用真现。现实历程中频仍呈现掌握器芯片生效毛病,搅扰造制厂家同时形成客户赞扬成绩。本文重面研讨空调器显现器芯片生效,若何疾速阐发、改进、劣化内容,如测试改进、设想改良。  枢纽词:空调器;圆柱柜机;芯片生效;测试改进;设想改良  0 媒介  为包管零件产物机能及格,从产物整部件、掌握器、零件均需求颠末严酷FCT(功用测试)环节。现实检测历程对EOS(电气过载)、ESD(静电开释)两种毁伤成绩,不克不及完整有用检测。关于SSD(静电敏感器件)物料,FCT强电检测体例一样存正在EOS毁伤隐患。为有用处理此种SSD生效成绩,本文特连系物料特征、检测办法停止研讨劣化,劣化物料构造停止可止性阐发。  1 事务布景  柜机显现器历程检测呈现缺划、FC庇护、按键得灵毛病,经比照数据,此中U101 36000838驱动芯片晶振输出(2引足)、输入(3引足)  引足生效,占毛病总数的45%; 36000265显现掌握芯片生效,集合正在7、8、9、10、11足生效,占毛病总数的27%;2003芯片、触摸芯片、V101 IC生效占总数28%。从芯片生效数据看次要集合为36000838、36000265芯片生效最为凸起,总计占比73%。  2 芯片生效机理阐发  2.1 生效机理阐发  别离与毛病品36000265芯片、36000898芯片、36000838芯片各1单停止开启阐发(如图1),36000838芯片开启后,晶圆外表存正在较着灼伤陈迹,阐发为EOS过电毁伤招致;36000619、36000898芯片开启后,晶圆外表已发明非常,阐发为ESD静电毁伤招致。从毛病品开启构造看此次非常EOS、ESD毁伤并存。  2.2 芯片本身特征阐发  1)对芯片1、3引足停止机器静电压(MM)实验。  当机器静电压200 V时,对芯片引足安特特征停止测试,直线一般,已呈现益坏状况(如图2)。  2)对芯片1、3引足停止人体静电压(HBM)实验。  当人体静电压2 kV时,对芯片引足安特特征停止测试,直线一般,已呈现益坏状况(如图3)。  3)芯片设想阐发。  芯片生效通讲存正在个性(如图4),均集合正在第7组I/O心,该通讲抗静电才能最强,属芯片设想缺点,线道路宽太小,易招致晶圆受益而使芯片功用生效。  3 历程掌握研判  3.1 车间静电掌握预案  1)限流电阻战毗连端子毗连牢靠,并具有必然载流才能,限流电阻阻值的挑选,保守电流没有超越5 mA,上限阻值1 MΩ,各接所在接天间的电阻值正在(0.75~1 000) MΩ,契合请求已发明非常。  2)线体职员全数佩带静电环,且阻值测试无非常。  3)线体离子风机消弭静电都可正在3 s内从±1 000V降至50 V,无非常。  4)工拆车接接天链无缺,可一般开释静电。  3.2 工拆、东西掌握方案  1)排查4套测试工拆放电回路接线无非常。  2)对4路电源14 V、12 V、(12 ~1、5)V放电现实结果查抄,3 s内电压余量可降至1 V以下。  3)对利用的工拆战测试底座的12 V电路(1通讲黄色波形)战5 V电路(2通讲绿色波形)停止过电测试,别离丈量一般上电测试、频仍开闭机、带电插拔、已接放电工拆测试,已发明非常。  3.3 职员操纵施行状况查抄  1)插件和看板操纵均无非常,已呈现静电防护没有到位而打仗主板状况。  2)个体测试职员存正在放电工夫不敷,已到3s即完毕测试的状况,此项属非常。  4 事务布景模仿状况  针对放电工夫不敷的状况停止模仿复现,考证显现板测试后,C20/C15 25 V/470 µF电解电容正在放电没有完全状况下,引足打仗到Y101晶振输出/输入端心3 s摆布,测试芯片2、3引足已短路生效,测试引足阻值为355 Ω、59 Ω。  从模仿考证的状况看,测试完成后,若放电工夫不敷,电解电容残留余电正在后工序周转历程中存正在对芯片放电招致芯片毁伤隐患(如图7)。  5 整改标的目的  综上所述,招致芯片生效的次要两年夜本果为芯片外部线路设想和测试放电工夫不敷。针对此两面,别离造定专项整改办法:改良芯片设想战测试工拆放电。  5.1 芯片外部线路改良  正在设想上删年夜了芯片的线路最小线宽,进步芯片的抗耐压才能。厂家消费历程删减leakage测试项目(正在OUT端→IN 端子间逃减Leak项目),而且耽误测试工夫(如图8战表2)。  5.2 测试工拆放电结果目视化改进  1)FCT测试工拆放电电路本理图如图9战图10。  2)测试完成后没法曲不雅断定主板放电能否有用,对测试工拆删减一个收光两极管监控放电能否有用。考证当测试完成后断电待两级管完整灭了,此时的板子上一切的余电没有会超越1 V。测试完成后看收光两极管灯灭后才气降起气缸,包管放电的有用性,如图11。  2)将测试工拆有顶针压板测试体例变动为插线测试,由强电掌握体例停止测试。测试完成后间接挨包,无过剩工序周转隐患。可躲避放电非常成绩。  6 结论  经由过程对删年夜芯片线路最小线宽和对测试放电防呆手腕施行,颠末频频考证产出1万件,已呈现芯片生效成绩。改良结果较着。散成电路中芯片生效EOS(电气过载)、ESD(静电开释)成绩,提出并降真新奇性改进,满意了使用范畴新手艺的请求。对FCT(功用测试)测试放电施行结果改良,放电结果间接演化成真物曲不雅法停止断定,装备自带检测才能,对FCT测试发生的余电毁伤成绩停止根绝性改进。  参考文献  [1] 恩云飞.电子元器件生效阐发及手艺开展[J].生效阐发取防备,2006(2):28.  [2] 韩银战.芯片考证阐发及测试流程劣化手艺[J].计较机帮助设想取图形教教报,2005(10).  做者简介:刘明(1987—),男,助理工程师,次要研讨标的目的:空挪用掌握器整部件阐发研讨。  本文滥觞于科技期刊《电子产物天下》2019年第9期第54页,欢送您写论文时援用,并说明出处。环亚娱乐旗舰店下载